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近场暗室
由于天线测量要满足远场条件 R≥2D²/λ。因此对大口径天线、阵列天线远场暗室的尺寸变的很大，建设成本过高，所以对大口径天线、阵列天线目前在室内都选择近场法测试天线的辐射特性。
由于天线测量要满足远场条件 R≥2D²/λ。因此对大口径天线、阵列天线远场暗室的尺寸变的很大，建设成本过高，所以对大口径天线、阵列天线目前在室内都选择近场法测试天线的辐射特性。
近场法的优点：测量速度快，精度高，并且还可以对天线进行诊断，查找问题，对暗室性能、尺寸要求不高，因此近年来随着测量仪器的进步获得了广泛的应用
近场法测量天线辐射特性是利用测量待测天线口面上的场的分布：幅度和相位，再通过近、远场变换，得到远场天线的辐射方向图和参数
为了能精确测量待测天线口面场的分布，在暗室中设置精密场探头、扫描架和精密导轨，实现天线对天线口面作平面、柱面和球面扫描。
使用MT25硬质吸波材料完全满足近场测试需求。
RFT可以根据客户的要求定制近场暗室配置。
